產品中心
Product Center設備介紹 允許進行多功能和創(chuàng)新的納米級熱分析 √ 精確評估薄膜和微粒的導熱系數(shù) √ 使用三維擴散模型揭示各向異性的熱導率 √ 量化深層界面的熱邊界導熱系數(shù) √ 在微觀尺度上可視化熱性能分析
隨著快速數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)處理技術的發(fā)展,電子顯微鏡進入了一個不僅重視數(shù)據(jù)質量,而且重視其采集過程的時代
型號:DektakXTDektakXT探針式輪廓儀采用革命性的臺式設計,可實現(xiàn)4Å(0.4nm)的優(yōu)異重復性,掃描速度可提高40%
DimensionFastScan原子力顯微鏡(AFM)系統(tǒng)經(jīng)過專門設計,在不降低分辨率、不失去力控制、不增加設備復雜性,不帶來繁瑣操作的前提下,即可實現(xiàn)快速掃描